Muestra y espera (SH) es parte del proceso de conversión de analógico a digital. El circuito central de un ADC requiere una tensión de entrada estática durante el pequeño intervalo de tiempo necesario para convertir la señal analógica en un valor digital. El dispositivo SH (o bloque en el caso de un circuito integrado) proporciona la entrada estática al ADC mientras que la señal de entrada actual sigue cambiando.

Los típicos circuitos SH utilizan amplificadores operacionales (amplificadores OP) con muy altas impedancias de entrada para detectar la tensión de entrada. La impedancia baja de salida del amplificador operacional conduce un capacitor de almacenamiento de salida. El capacitor de almacenamiento tiene la finalidad de mantener esa tensión durante la duración del proceso de muestreo.

Hay varios indicadores clave para evaluar el desempeño SH. El tiempo de adquisición se refiere a la longitud de tiempo que el circuito SH solicita a la entrada para conectarse activamente al amplificador OP. Más corto es mejor, porque si la entrada está cambiando durante la adquisición, el valor obtenido será un promedio de la señal de entrada durante el tiempo de adquisición. Ganancia y error de desplazamiento se refieren a las características del amplificador OP y una vez entre más pequeños sean estos valores mejor será el rendimiento SH. Finalmente, un error de caída caracteriza cuánto va a cambiar la tensión de salida durante el período de espera debido a la fuga de carga del capacitor de almacenamiento.