| Compliant | |
| EAR99 | |
| Active | |
| HC | |
| NAND | |
| 1 | |
| 8-IN | |
| 0 | |
| 0 | |
| 1 | |
| 130@2V|22@6V|26@4.5V | |
| 195 | |
| CMOS | |
| 5.2 | |
| -5.2 | |
| 2 | |
| 5 | |
| 6 | |
| 2 | |
| 50 | |
| -40 | |
| 125 | |
| Bulk |
| EDA / CAD Models |
NAND Gate 1-Element 8-IN CMOS 14-Pin SO Bulk
| RoHS (Union Européenne) | Compliant |
| ECCN (États-Unis) | EAR99 |
| Statut de pièce | Active |
| Famille logique | HC |
| Fonction logique | NAND |
| Nombre d'éléments par puce | 1 |
| Nombre d'éléments d'entrée | 8-IN |
| Nombre de sorties autorisées par élément | 0 |
| Nombre d'entrées de sélection par élément | 0 |
| Nombre d'éléments de sortie | 1 |
| Délai maximal en propagation @ CL maximal (ns) | 130@2V|22@6V|26@4.5V |
| Délai de propagation absolue (ns) | 195 |
| Technologie de traitement | CMOS |
| Courant de sortie maximal de niveau faible (mA) | 5.2 |
| Courant de sortie maximal de haut niveau (mA) | -5.2 |
| Tension d'alimentation minimale en fonctionnement (V) | 2 |
| Tension d’alimentation type en fonctionnement (V) | 5 |
| Tension d'alimentation maximale en fonctionnement (V) | 6 |
| Courant de repos maximal (uA) | 2 |
| Condition de test de délai de propagation (pF) | 50 |
| Température de fonctionnement minimale (°C) | -40 |
| Température de fonctionnement maximale (°C) | 125 |
| Emballage | Bulk |
| EDA / CAD Models |
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