AD4854: DAS amortiguado de muestreo simultáneo de 4 canales, 20 bits y 1MSPS
El AD4854 es un sistema de adquisición de datos (DAS) de 20 bits y 1MSPS, totalmente amortiguado, de 4 canales con muestreo simultáneo y entradas diferenciales de amplio rango de modo común.
Operating from a 5V low voltage supply, flexible input buffer supplies, and using the precision low drift internal reference and reference buffer, the AD4854 allows the SoftSpan range of each channel to be independently configured to match the application signal swing, minimizing additional external signal conditioning. To further maximize single-conversion dynamic range, the AD4854 incorporates seamless high dynamic range (SHDR) technology. When enabled, the input signal path gain of the channel is automatically optimized on a sample-by-sample basis, minimizing converter noise on each sample without impacting linearity.
The 11MHz bandwidth, picoamp input analog buffers, wide input common-mode range, and 120dB common-mode rejection ratio (CMRR) of the AD4854 allow the DAS to directly digitize input signals with arbitrary swings on INx+ and INx−. Its input signal flexibility, combined with ±160μV integral nonlinearity (INL), no missing codes at 20 bits, 97.2dB signal to noise ratio (SNR), and 111.4dB dynamic range, make the AD4854 an ideal choice for applications requiring high accuracy, throughput, and precision in a compact solution footprint. Enabling 24-bit oversampling offers further SNR and dynamic range improvements. Optional per channel offset, gain, and phase adjustment provide the ability to calibrate and remove system-level errors upstream to the DAS.
The AD4854 features a serial peripheral interface (SPI) register configuration bus (0.9V to 5.25V) and supports both low voltage differential signaling buses (LVDS) and complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) conversion data output buses, selectable using the LVDS/CMOS pin. Between one and four lines of data output can be employed in CMOS mode, allowing the user to optimize bus width and throughput.
The 7.00mm × 7.00mm, 64-ball, ball grid array (BGA) of the AD4854 includes all critical power supply and reference bypass capacitors, minimizing full solution footprint and component count and reducing sensitivity to application printed circuit board (PCB) layout. The device operates over an extended industrial temperature range of −40°C to +125°C.
Note that throughout this data sheet, multifunction pins such as LVDS/CMOS are referred to either by the entire pin name or by a single function of the pin. For example, LVDS when only that function is relevant.
Características clave y beneficios
Sistema completo de adquisición de datos de 20 bits
- Muestreo simultáneo de 4 canales con almacenamiento interno
- Rendimiento de 1MSPS por canal
- Entradas diferenciales, amplio rango de modo común
- ±75pA de fuga de entrada típica a 25°C
- Tiempo de estabilización de entrada de escala completa < 300ns
- Referencia integrada y búfer de referencia (4.096V)
- Capacitores de desacoplamiento de suministro integrado
- 57 mW por canal a 1 MSPS, la potencia se ajusta según el rendimiento
Condicionamiento de señal externo mínimo Rango dinámico amplio y continuo
- Rango automático de ganancia por muestra, por canal
- Mantiene INL a nivel de ppm
Rangos de entrada SoftSpan por canal, bipolares o unipolares
- ±40V, ±25V, ±20V, ±12.5V, ±10V, ±6.25V, ±5V, ±2.5V
- 0V a 40V, 25V, 20V, 12.5V, 10V, 6.25V, 5V, 2.5V
Tolerancia al sobrevoltaje de entrada de extremo a extremo Alto rendimiento
- INL: ±160μV típico (rango ±40V)
- SNR: 97,2dB conversión única típica (rango de ±40V)
- DR: 111.4dB de conversión única típica (rango ±40V)
- THD: −117dB típico (rango ±40V)
- CMRR: 120dB típico
Flexibilidad digital
- SPI CMOS (0,9V a 5,25V) y entrada y salida serial LVDS
- Sobremuestreo opcional con promediado digital de 16 bits
- Corrección opcional de desplazamiento, ganancia y fase
7,00 mm × 7,00 mm, huella de solución completa BGA de 64 bolas
Aplicaciones
- Equipo de prueba automático
- Aviónica y aeroespacial
- Sistemas de instrumentación y control
- Fabricación de semiconductores
- Prueba y medición
Placa de Evaluación
El AD4854 puede evaluarse con el EVAL-AD4858.
Diagramas de Bloques y Tablas
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