Texas Instruments Autres
| N° de référence | Prix | Stock | Fabricant | Catégorie | Category | Packaging | Rad Hard | Pin Count | Supplier Package | Standard Package Name | CECC Qualified | ESD Protection | Military | AEC Qualified | Auto motive | P PAP | ECCN Code | SVHC | SVHC Exceeds Threshold |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
SNJ54BCT8240AFK
Scan Test Device -55°C to 125°C 28-Pin CLLCC Tube
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De $79.84 à $86.52
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 28 | CLLCC | LCC | No | Yes | No | No | No | EAR99 | Yes | Yes | ||||
THS789PFD
Time Measurement Unit 0°C to 70°C 100-Pin HTQFP EP Tray
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De $95.18 à $103.15
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 100 | HTQFP EP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
SN5497J
Multiplier -55°C to 125°C 16-Pin CDIP Tube
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De $13.869 à $15.182
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 16 | CDIP | DIP | No | No | No | No | EAR99 | Yes | Yes | |||||
SN74ABT18652PM
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
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De $12.265 à $13.392
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 64 | LQFP | QFP | No | Unknown | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||
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SN74ABTH182652APM
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
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De $14.23 à $15.54
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 64 | LQFP | QFP | No | Unknown | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||
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SN74ABTH18502APMR
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP T/R
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$13.41
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | ||||
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SN74ABTH18646APMG4
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
| SN74ABT18502PMRG4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
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SN74ABT18502PMG4
Scan Test Device
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
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SN74ABT18502PMR
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP T/R
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$14.24
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | ||||
| SN74ABT18245ADLRG4 Scan Test Device |
|
Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 56 | SSOP | SO | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | ||||
|
SN74ABT18646PMG4
Scan Test Device
|
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 64 | LQFP | QFP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
| SN74ACT1073NSRE4 Bus Termination Array -40°C to 85°C 20-Pin SOP T/R |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 20 | SOP | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
SN74BCT8244ADW
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
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De $7.032 à $7.472
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 24 | SOIC | SO | No | Unknown | No | No | No | No | EAR99 | No | No | |||
| SN74BCT8244ADWE4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
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SN74BCT8373ADW
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
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De $6.119 à $6.682
Par unité
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | EAR99 | No | No | ||||
| SN74BCT8244ADWG4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8373ADWG4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8244ANT Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin PDIP Tube |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | PDIP | DIP | No | No | No | No | No | EAR99 | Yes | No | |||||
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SN74BCT8244ADWR
Scan Test Device
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | No | 24 | SOIC | SO | No | Unknown | No | No | No | No | Yes | No | ||||
| SN74BCT8374ADWG4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8240ADWE4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8240ADWG4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8373ANTE4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | PDIP | DIP | No | No | No | No | No | Yes | No | ||||||
| SN74BCT8374ADWE4 Scan Test Device |
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Texas Instruments | Divers logique et minuteur | 24 | SOIC | SO | No | No | No | No | No | Yes | No |