Safety and Power Architectures that Enable Autonomous Driving Embedded Systems

Publié par

There are two types of malfunction risks – systematic failures and random failures. By combining power management and functional safety hardware monitoring, NXP has developed a complementary approach to qualitative and quantitative safety analysis for System Basis Chips (SBC) and other external devices used in car electrification.

To learn more, click here to read the full article.

Actualité

Sorry, your filter selection returned no results.

Nous avons mis à jour notre politique de confidentialité. Prenez un moment pour lire les changements. En cliquant sur "J'accepte", vous acceptez la clause de confidentialité d'Arrow Electronics ainsi que les conditions d'utilisation.

Notre site Internet place des cookies sur votre appareil pour améliorer votre expérience et pour améliorer notre site. Pour en savoir plus sur les cookies que nous utilisons et la façon de les désactiver, cliquez ici. Des cookies et des technologies de suivi peuvent être utilisés à des fins de marketing. En cliquant sur « Accepter », vous consentez au placement de cookies sur votre appareil et à notre utilisation de technologies de suivi. Cliquez sur « En savoir plus » pour de plus amples informations et instructions sur la façon de désactiver les cookies et les technologies de suivi. Même si l'acceptation des cookies et technologies de suivi est volontaire, leur désactivation peut entraîner un mauvais fonctionnement du site Internet et certaines publicités peuvent être moins pertinentes pour vous. Nous respectons votre confidentialité. Lisez notre politique de confidentialité ici.